| Técnica | Descripción | Parámetros e Información Obtenida |
| XRD Convencional (Polvos y Muestras Masivas) | Análisis estándar no destructivo para muestras cristalinas y policristalinas. | Identificación y cuantificación de fases cristalinas, parámetros de red, tamaño de cristalita y microdeformación. |
| XRD In-Situ con Cámara Térmica (Alta Temperatura) | Difracción de rayos X en condiciones no ambientales mediante cámara térmica de alta temperatura (hasta 1200\ ^\circ\text{C}). | Estudio de transiciones de fase en tiempo real, estabilidad térmica, cinética de cristalización, coeficientes de expansión térmica y reacciones en estado sólido. |
| Tomografía Computarizada por Rayos X (Micro-CT) | Técnica 3D no destructiva que combina radiación de alta energía (tubo de plata) y detector GaliPIX para inspección volumétrica interna. | Visualización y reconstrucción tridimensional de estructuras internas, análisis de porosidad y distribución de tamaño de poros, detección de fallas, grietas y control dimensional de piezas fabricadas por manufactura aditiva/3D. |
| GIXRD (Difracción con Incidencia Rasante) | Haz incidente a ángulo rasante (< 1^\circ) para confinar la interacción a los primeros nanómetros de la superficie. | Análisis estructural selectivo de películas delgadas y recubrimientos nanométricos, suprimiendo la señal del sustrato. |
| XRR (Reflectometría de Rayos X) | Medición de la reflectividad especular en función del ángulo rasante incidente. | Medición precisa de espesores nanométricos (1\text{--}200\text{ nm}), densidad electrónica y rugosidad superficial e interfacial en láminas simples y multicapas. |
| Textura Cristalina y Tensiones Residuales | Medición de figuras de polos, ODF y corrimiento de picos por deformación de red. | Determinación de orientación preferencial de cristalitas y mapeo de tensiones residuales (residual stress) en componentes mecánicos, piezas forjadas y cordones de soldadura. |
| PDF (Pair Distribution Function) | Análisis de dispersión total de rayos X a alto vector de dispersión Q. | Caracterización de la estructura atómica local y distancias interatómicas en materiales amorfos, vidrios, polímeros, nanopartículas y soluciones. |
| SAXS / GISAXS (Dispersión a Ángulos Bajos) | Dispersión de rayos X a ángulos reducidos en volumen (transmisión) y superficie (incidencia rasante). | Determinación de tamaño, forma y distribución de nanopartículas, mesoporosidad, sistemas coloidales y ordenamiento a escala nanométrica. |